作者：Takeo Sawatari,夏永健 单位：中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心 出版：《中国检验检测》1980年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXDJL1980040030 DOC编号：DOCXDJL1980040039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《齿轮倒角轮廓协同高精度测量方法的研究》PDF+DOC2015年第11期 许增朴,张驰,蔡春明,王永强,周聪玲 《播种镇压轮廓精准测量系统》PDF+DOC2015年第06期 马纪琴,韩应征,王秀,胡培,李良 《等倾干涉条纹的采集与处理》PDF+DOC 穆晓东,郝子文 《基于光纤传感器的元件表面粗糙度测量方法》PDF+DOC2020年第06期 王锦仁,郭俊梅,张玉宾 《一种线性测量的光纤电压传感器》PDF+DOC2017年第12期 王云,胡裕峰,邹志坚,蔡礼,朱建武 《图像测量技术的新应用》PDF+DOC1998年第03期 吴晓波,杨永琴 《数值孔径与数字剪切散斑干涉条纹亮度的关系》PDF+DOC1994年第11期 何玉明 《双缝部分相干干涉光强分布观测与分析》PDF+DOC 张永炬,冯尚申,梁华秋,郑薇薇 《光强调制式光纤传感器测量精度的研究》PDF+DOC2007年第06期 金远强,周岩,胡丽国,杨乐民,李鹏生 《基于振动传感器的车削加工表面粗糙度预测》PDF+DOC2007年第09期 林岗,毛伟,马莉,徐向明

    • 一、引言在许多场合下，表面轮廓的测量是很重要的。使用钻石测针的机械式轮廓仪，是为此用的一种标准仪器。测针式仪器要使针尖与被测表面接触。接触测量会使针尖磨损或划伤被测表面。而另一方面，光学技术通常是非接触式的方法。已经提出过许多光学技术用以测量各种

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