《CGW—1单晶硅微压传感器简介》PDF+DOC
作者:
单位:中国航空制造技术研究院
出版:《航空制造技术》1979年第11期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHKGJ1979110200
DOC编号:DOCHKGJ1979110209
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《硅微压力传感器结构的研究》PDF+DOC1995年第06期 王丽萍,张宾华
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《用碳压阻传感器对低激波压力的测量》PDF+DOC1980年第05期 Peter Krehl,刘宝琦
《压阻传感器的封装新技术——低温玻璃烧结工艺》PDF+DOC1984年第02期 李健明
《CYZ型惠斯登电桥墒情测量仪的研制》PDF+DOC2002年第S2期 周静,陈本华,何园球
一、结构与工作原理 CGW-1单晶硅微压传感器是利用硅的压阻效应,以硅平面工艺为基础制成的一种新型压力传感器,也称压阻传感器。其结构如图。硅膜片组件是传感器的核心,在N型(111)硅膜片(图右部)的<;110>;晶向上,在等效应区扩散12个P型电阻,选择一组最佳电阻组成电桥,以直径为50微米的金丝热压焊在扩散电阻的铝电极上,并将另一端以锡焊联到绝缘子的柯伐丝上,组成四臂全差动惠斯登电桥。膜片与硅环用金硅共熔法形成刚性连接。硅膜片组件装于壳体与隔环中间,用螺纹压盖通过O型密封圈将其轴向压紧,构成密封压力腔,并
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