作者:孙毓敏 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1984年第02期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ1984020100 DOC编号:DOCCGQJ1984020109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 由于传感器是测试系统的基本环节,它直接影响到各类测量仪器的发展,因此,国外对传感器的研制发展很快。人们不但从传感器的工艺上加以完善提高,而且从性能、体积、功能、成本上取得可喜成果。特别是集成电路工艺的发展,使传感器在物理结构上能把敏感元件与后随测

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