作者：潘喜军 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》1982年第03期 页数：15页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ1982030030 DOC编号：DOCCGQJ1982030039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 前言 现代科学技术的成就，极大地促进了电测技术的迅速发展，电测技术成为各科学技术发展基础的重要性巳愈来愈明显，如航空、航天、交通、机械制造、地质勘探、生物医疗等各领域都与电测技术有着极其密切的关系。

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