作者:陈虹 单位:中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心 出版:《中国检验检测》1974年第02期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXDJL1974020120 DOC编号:DOCXDJL1974020129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 一、前言在集成电子学出现以前,传感器往往是计量装置的尺寸、重量和响应时间方面的限制因素。在1950~1970年,晶体管和集成电路的发展使计量仪器有了重大的改进,然而,直到最近几年,这些新技术才为传感器设计人员所利用。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。