《国外金属硅化物肖特基势垒红外电荷耦合器件(SBIRCCD)的发展动态》PDF+DOC
作者:程开富
单位:中国电子科技集团第四十四研究所
出版:《半导体光电》1988年第02期
页数:7页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTG1988020110
DOC编号:DOCBDTG1988020119
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本文简述了国外金属硅化物(Au—P—Si、Pd_2Si、PtSi)肖特基势垒红外电荷耦合器件(SB—IRCCD)的发展动态。其次展望了长波(1~12μm)肖特基势垒的发展趋势。
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