作者：李世齐,汤斌,吴璋 单位：中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所 出版：《计测技术》2016年第01期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFHKJC2016010120 DOC编号：DOCHKJC2016010129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《基于数显高度尺的激光位移传感器校准方法及不确定度分析》PDF+DOC2019年第09期 王志超,毛利伟,张漫山,孟令川 《植物生长测试仪》PDF+DOC1998年第03期 丁镇生 《导电橡胶按键弹性曲线测试仪设计和实现》PDF+DOC1996年第04期 朱英,周伟,秦连城 《大位移机械运动参数测试仪》PDF+DOC1992年第02期 康泰,唐浙东,胡旭东 《微机化电涡流式位移测试仪》PDF+DOC1990年第03期 黄惟公,吴仲光 《非接触式圆盘端面跳动测试仪》PDF+DOC1983年第05期 李文秋,杨尔源 《一种新型位移传感器的研究》PDF+DOC2001年第03期 高绍武 《摩擦力测试仪控制系统的研制》PDF+DOC2008年第06期 余晓飞,王志明,张楠 《光强调制型光纤压力测试仪的研制》PDF+DOC2006年第12期 杨洋,高嵩,李鹏生 《开关特性测试仪速度量的两种校准方法》PDF+DOC2013年第03期 金辉,聂晓晔,丁鼎

    • 在对开关特性测试仪各速度参量进行校准时，需要有一个能够满足校准需要的速度发生装置。本文介绍了一种在高压开关特性测试仪校准时提供速度信号的速度发生器的总体设计方案，详细讨论了其设计过程。该速度发生器应用STM32F407作为主控芯片；设计了一套提供真实位移过程的位移机构；设计了信号输出电路以输出可自定义脉宽与幅值的脉冲信号。校准时可以根据被校准仪器的需要选用不同的速度信号源，以解决开关特性测试仪速度参数校准的速度源问题。

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