作者:薛德钧 单位:中国物理学会 出版:《电子显微学报》1986年第03期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZXV1986032070 DOC编号:DOCDZXV1986032079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在X线显微分析中,背底是干扰因素,特别对微量分析,影响更大,有时,它又是一种有用的测量信息,背底的主要成分是韧致辐射所产生的连续X光谱,但是,也有一部分在谱仪内漫射的X光子,不经过分光晶体,直接进入计数器,构成背底计数的一部分,本文介绍对这一部分漫射X光子对背底的贡献的实验测量结果,实验表

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