作者:周广涛 ,蔡金涛 单位:中国航天科工防御技术研究院;中国宇航学会;中国系统工程学会 出版:《系统工程与电子技术》1986年第12期 页数:16页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXTYD1986120050 DOC编号:DOCXTYD1986120059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 一、引言 雷达目标探测的概率取决于探测电路中信噪比(S/N)和探测电路中门限装定值。S/N的值越高意味着目标反射功率也越高。较高的门限提高了被探测目标反射的功率电平,从而降低了探测能力。但是,另一方面,较高的门限可减少虚警率(噪声通过

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