作者：丁山 单位：北京航空精密机械研究所 出版：《航空精密制造技术》1988年第01期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFHJZJ1988010100 DOC编号：DOCHJZJ1988010109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文简述了为什么要对颗粒尺寸进行测量的道理，并着重叙述各种成功的光学测量方法的原理、实用仪器及其优缺点。最后提出了颗粒尺寸的各种光学测量方法的一般选择原则。

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