作者:李家喜,扬正兰,邓宁 单位:成都工具研究所 出版:《工具技术》1985年第03期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGJJS1985030020 DOC编号:DOCGJJS1985030029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 光学法测量表面质量—缺陷及光洁度等自激光出现以来得以迅速发展;而新型的光纤传感器研制成功更丰富了表面质量测量的内容。国内对于0.60≤R≤0.90mm内外小球面光洁度检测,以及环类、筒型零件内圆柱表面缺陷的检验一直是个难题。而且,这类零件的检查在机械行业中带有普遍的意义。我们成功地把激光、光纤及微电子等新技术用于上述零件的表面质量检查中,较好地解决了所述类型零件测量上的问题。

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