作者:黄辉光 单位:北京长城航空测控技术研究所 出版:《测控技术》1985年第02期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFIKJS1985020000 DOC编号:DOCIKJS1985020009 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 测试技术在今后15年将怎样发展?由于它的支柱技术——微电子技术和光电子技术等的发展速度惊人,要想准确地预测测试技术的发展是困难的,但是又不是不可知的。美国未来学家、“大趋势”的作者约翰·奈斯比特说得好,“预测未来最可靠的方法就是了解现在”。本文试图按这个观点叙述现在,展望未来。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。