《微压传感器制造中的硅杯腐蚀》PDF+DOC
作者:杨学昌,张九惠,沈桂芬
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》1989年第06期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ1989060070
DOC编号:DOCCGQJ1989060079
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一、前言 对于杯式扩散硅压力传感器来讲,硅杯是决定其性能优劣的关键部件。我们知道,工作压力P与硅杯的几何尺寸应满足下式要求: 其中,r为硅杯半径;h为膜片厚度;σ_c为硅的弹性极限,σ_c=8×;10~7Pa。(1)
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