作者:周鸿仁,刘秀蓉,恽正中 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1989年第02期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ1989020060 DOC编号:DOCCGQJ1989020069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 镍薄膜电阻器是近年来开发研究的新型测温元件。70年代末,日本报导了圆柱状镍膜测温电阻;1985年,联邦德国的Saufer-Cuinulus公司研制出其电阻温度系数等特性达到该国标准的镍薄膜电阻器(温度系数为6170ppm/℃),为此获得1985年度联邦德国传感器发明大奖。

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