《传感器硅膜制备技术的研究》PDF+DOC
作者:张佐兰,田耘,简耀光
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》1989年第01期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ1989010060
DOC编号:DOCCGQJ1989010069
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《硅膜制备技术及其应用》PDF+DOC1989年第01期 张佐兰
,田耘
,简耀光
《基于ANSYS仿真的阳极键合薄膜形变量的研究》PDF+DOC2017年第02期 葛益娴,彭波,张鹏,赵伟绩
《金属薄膜厚度测量技术分析》PDF+DOC2020年第07期 李加福,朱小平,杜华,王凯,赵沫
《红外反射法测量薄膜构件的膜厚》PDF+DOC1996年第S1期 王东生,阳运平
《Cr金属薄膜温度传感器的研究》PDF+DOC2004年第S1期 闫卫平,朱剑波,马灵芝,郭吉洪
《一种测量透明薄膜厚度的新方法》PDF+DOC2003年第01期 王玉田,赵世强,王遂,隋红丽
《压电薄膜力传感器及其牙咬力的测量应用研究》PDF+DOC2001年第S1期 王海涛,罗秋凤,周必方,E.J.Richter
《改进的迈克尔逊干涉仪测量薄膜厚度》PDF+DOC2012年第01期 马成,徐磊
《基于双共焦传感器的薄膜厚度测量技术》PDF+DOC2010年第S1期 杨蒙生,邢丕峰,高党忠,马小军,李朝阳
《康铜薄膜压力传感器的有限元分析》PDF+DOC2013年第15期 李琦,武文革,李学瑞,范鹏
一、引言固态传感器的微结构通常用化学腐蚀法获得,如,薄膜、埋层和悬板等。传感器输出电讯号的灵敏度与机械应力或信号源的变化有关,而这种变化又依赖于薄膜厚度。所以厚度的精确控制对器件性能的影响是十分重要的。
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。