作者：Paul McAllister,李刚 单位：中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心 出版：《中国检验检测》1987年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXDJL1987030210 DOC编号：DOCXDJL1987030219 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 一、前言射频和微波功率测量易受种种误差源影响，这些误差源起因于：(1)处理功率传感器输出电压所用电路与技术的局限性，通常称为仪器误差，它与频率无关；(2)传感器校准误差；(3)信号源与传感器阻抗不一致引起的失

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