作者：陈怀溥,王思杰,曹子祥 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》1987年第Z1期 页数：2页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ1987Z11470 DOC编号：DOCCGQJ1987Z11479 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 目前生产中广泛使用的应变计传感器(应变片)有金属应变计和单晶半导体应变计。金属应变计的温度特性、线性都较好，但灵敏系数K小，通常K=2～4，利用半导体压阻效应的半导体应变计虽然灵敏系数较大，很容易得到K=50～150。但其温度特性和线性都较差，

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