作者：Osami Sasaki,Hirokazu Okazaki,张兵 单位：中国兵工学会;中国兵器工业第二0五研究所 出版：《应用光学》1987年第02期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYYGX1987020150 DOC编号：DOCYYGX1987020159 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 本文提出了用电荷耦合器件(CCD)象传感器检测时变强度分布的方法。已经证实，在电荷存贮周期内对时变强度积分而得到的光电探测器元件的瞬时输出，可以再现时变强度。采用正弦型调相激光时，这种检测方法不同于测量光学表面的轮廓分布。

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