作者：余拱信 单位：重庆市光学机械研究所 出版：《激光杂志》1986年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJGZZ1986030060 DOC编号：DOCJGZZ1986030069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文介绍了双曝光全息干涉法对3J53膜片的材料质量、机械性能和装配工艺的检测。结果表明试验值与理论值基本上一致，膜片的位移变化呈线性关系。这是其他方法很难实现的，从而显示了激光全息检测的优越性。

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