作者:黄小凯,张超,胡芳,刘守文 单位:北京航空航天大学 出版:《北京航空航天大学学报》2016年第03期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBJHK2016030040 DOC编号:DOCBJHK2016030049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 长期贮存条件下平台惯导系统壳体效应具有与使用状态不同的漂移特性,其漂移规律与各性能参数退化及其相互耦合特性相关,在工程应用中往往难以分析贮存条件下壳体效应稳定性水平和合理配置标定维护资源。本文通过全面分析伺服电路零位和框架轴上干扰力矩引起壳体效应漂移的原理及其漂移表达式,在此基础上深入挖掘了表达式中漂移参数的变化特性,综合给出了伺服电路零位和框架轴上干扰力矩引起壳体效应漂移的变化行为模型,并结合实际贮存环境剖面对其进行了长期漂移特性、加速特性和稳定性分析,分析表明在现有贮存条件下,伺服电路零位和框架轴上干扰力矩引起的壳体效应在X、Y和Z轴的长期漂移特性相近,与实际使用状态的响应特性不同,且无加速特性,具有较好的稳定性水平,从而为合理安排标定维护资源提供了依据。

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