《千分卡尺专用集成电路》PDF+DOC
作者:郝鸿安
单位:机械工业信息研究院
出版:《电气时代》1992年第04期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDQSD1992040100
DOC编号:DOCDQSD1992040109
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《振动筒式压力传感器技术及其应用》PDF+DOC1998年第12期 裴翀,韩承松
《高精度电感式外径检测仪》PDF+DOC1992年第01期 李智群,陈岭丽,沈兰荪,王英英
《一种新型纳米光栅传感器的理论研究》PDF+DOC2006年第02期 马修水,费业泰,陈晓怀,赵静
《基于FPGA的高精度光栅计数卡》PDF+DOC2006年第02期 冯寿廷,李迪,刘潭义
《一种新型非接触测控系统》PDF+DOC 张桂森,郭俊杰
《基于CRIO技术的传感器测试仪设计》PDF+DOC2012年第09期 刘慧,陈关君,于云选
《磁罗盘的误差分析及补偿》PDF+DOC2012年第32期 熊莉
《对影响质量流量计精度的因素及修正的初步探讨》PDF+DOC2011年第08期 华海涛
《基于89C52测温系统在测长仪上的应用》PDF+DOC2008年第11期 孙向荣,聂思敏
《激光测距仪中高精度光栅传感器的设计》PDF+DOC2006年第06期 王文成,徐建强
常用的千分卡尺大多是用眼观察刻度,其精度只能达到0.05~0.1 mm。专用大规模集成电路5G 8121的研制成功,可使千分卡尺的测量直接用数字显示读出,从而提高了测量精度。工作原理5 G 8121内部结构见图1所示,内有光栅输入倍
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。