作者:何素冰,赵冷柱 单位:南京电子器件研究所(中电科技集团公司第55所) 出版:《固体电子学研究与进展》1992年第02期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGTDZ1992020010 DOC编号:DOCGTDZ1992020019 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 超晶格BEST模式像传感器是近几年来发展的非常有潜力的红外探测器件。本文结合这种器件计算和讨论了超晶格中浅杂质能谱和光吸收,给出了:杂质能带;杂质离化能;杂质能带的带宽和能态密度;杂质基态与第一束缚子能带基态间光跃迁:量子化极限尺寸以及其它性质。这不但具有一定物理意义,并对于BEST模式红外传感器件的光吸收有一定参考价值。

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