作者:萧远虹 单位:中国糖业协会;全国甘蔗糖业信息中心;广州甘蔗糖业研究所 出版:《甘蔗糖业》1991年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGZTY1991020090 DOC编号:DOCGZTY1991020099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 射频测量在制糖工业上的应用,澳大利亚于1975年已成功地用于低级原糖煮炼的控制,丹麦 D.D.S.公司1977年则使用在高纯度糖的煮炼中。近期,南非 Tongaat—Hulett 糖业技术公司继而又成功地把其应用在控制连续煮糖(原糖)罐及蒸发糖浆锤度上,进一步的发展是在精炼糖厂控制白砂糖的煮炼及喷流锤度的测量。在该公司的指导

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