《CCD图像传感器在薄膜应力测量中的应用》PDF+DOC
作者:刘继琨
单位:中国电子科技集团第四十四研究所
出版:《半导体光电》1992年第04期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTG1992040230
DOC编号:DOCBDTG1992040239
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各种蒸发光学薄膜都存在内应力,其性质和大小直接影响光学薄膜性能与质量。因此,薄膜内应力的精确检测具有重大的实用意义。本文介绍以高灵敏度的光纤传感器为变换器,以高分辨率的 CCD 为光信号检测器的内应力检测系统,具有灵活、结构小巧、精度高、实时测量等优点,实践证明是有效的。
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