作者：武蕴忠,孙承龙,徐梅芳,褚卫兵,丁青,李生强 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》1991年第03期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ1991030140 DOC编号：DOCCGQJ1991030149 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文讨论了铂薄膜温度传感器的设计、制造工艺、膜料与衬底及封装材料的关系。报道了研制成的薄膜铂电阻性能全面符合IEC751标准。

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