《一种用于依次涂层表面位移测量的光电传感器》PDF+DOC
作者:Desmond Adair,李熙
单位:中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心
出版:《中国检验检测》1991年第06期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFXDJL1991060070
DOC编号:DOCXDJL1991060079
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1.前言对目前重点在过渡延迟上的依次涂层研究的全面考察,可以在早期文献中找到对目前研究有具体说明的著作。对所设计的用以确定依次表面运动量的一些装置作了考察。多数装置是用来检测具有长方形横断面和相对容易采光
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