作者:山崎勉,张正治 单位:中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心 出版:《中国检验检测》1991年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXDJL1991050080 DOC编号:DOCXDJL1991050089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 1.前言目前在各种温度计量测试过程中较多地使用测量温度范围广的热电偶,理论上必须进行一定的温度补偿。进行该补偿所采用的温度传感器通常为热敏电阻,使驱动电路或调整变得麻烦而复杂,稳定性也极差。随着温度补偿技术的进步,对以微处理器为主流的具有数字信

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