作者：李东升,汤晓华,李瑞芬,王广杰 单位：哈尔滨电工仪表研究所有限公司;中国仪器仪表学会电滋;测量信息处理仪器分会 出版：《电测与仪表》1993年第12期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDCYQ1993120100 DOC编号：DOCDCYQ1993120109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 利用本试验装置能方便地测出磁敏传感器的位移特性。当磁敏传感器结构、参数不同时，则可根据其测得的位移特性来评价和调试磁敏传感器，使其位移特性达到最佳值或要求的设计目的。

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