《WaveScan:一种新的非向量测试方法》PDF+DOC
作者:
单位:电子工业出版社;美国国际数据集团
出版:《今日电子》1995年第01期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZJR1995010570
DOC编号:DOCDZJR1995010579
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《一种新的非向量测试方法》PDF+DOC1994年第04期 岳欧
《为测试防空武器而研制的脱靶距离检测雷达(MIDI)》PDF+DOC1981年第03期 Charles E.French,张祥林
九十年代的电路板生产厂家,必须解决好两个主要问题:一是电路板的复杂程度和板所容纳的器件密度不断地增加;另一个就是必须缩短生产周期,降低成本。这样才能在电路板的国际市场竞争中生存发展。就电路板的生产工艺测试而言,这就要求更低廉的测试设备与设备运转费以及更短的测试编程时间。 电路板的测试通常分为两类,即向量测试和非向量测试。向量测试靠输入不同的测试图形来检测电路板上数字器件的结构故障。但随着
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