作者:闫卫平,马灵芝,牛德芳 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》1995年第01期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS1995010020 DOC编号:DOCCGJS1995010029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 多晶硅薄膜的性质与膜的结构有密切关系.界面结构主要指晶粒尺寸、择优取向及其结构,多晶硅薄膜的结构主要由沉积条件、膜厚、掺杂条件和后来的退火温度和退火时间所决定.本文讨论了用常规低压化学汽相淀积(LPCVD)方法制备的多晶硅薄膜的结构特性,初步获得了提高多晶硅压力传感器灵敏度及其温度稳定性的条件。

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