作者: 单位:中国分析测试协会 出版:《现代科学仪器》1994年第04期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXDYQ1994040220 DOC编号:DOCXDYQ1994040229 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文简要介绍了工业计算机断层成像(ICT)技术的原理和应用,概括了ICT的发展概况,描述了快速、实用的ICT-B01样机的组成及性能指标,最后列举了一些用户的检测实例。

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