作者:大舟 单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 出版:《光机电信息》1995年第08期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGJDX1995080060 DOC编号:DOCGJDX1995080069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 目前产品的质量要求尤为重要,生产中必须把质量摆在第一位,必须提前发现缺陷所在.发展趋势是联机检测.由于目前的图像处理系统已达到成熟的阶段并可节约生产的开支,所以装备一套“自动联机表面检测系统”并不困难.为了提高生产效益,近年来不断提高生产的速度,然而,加工速度的不断提高,产品的抽检便不再能适应要求.现在已开发出可满足需要的质量检验系统,质量的认定无需

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