作者：福平 单位：沈阳仪表科学研究院有限公司 出版：《仪表技术与传感器》1994年第02期 页数：1页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYBJS1994020230 DOC编号：DOCYBJS1994020239 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 由沈阳仪器仪表工艺研究所承担的国家“八五”重点科技攻关项目之一的APS图形对准测试仪(编号为85—721—03—02/01)于1993年12月24日顺利通过部局鉴定。 该测试仪主要适用于对力敏传感器中的核心元

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