作者:郑学仁,刘百勇,李斌,王曦,郑耀宗 单位:华南理工大学 出版:《华南理工大学学报(自然科学版)》1995年第12期 页数:9页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHNLG1995120010 DOC编号:DOCHNLG1995120019 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文报道了一种用聚酰亚胺(PI)膜垫高扩展栅的聚偏氟乙烯(PVDF)压电膜-MOS晶体管(PEGPOSFET)传感器单元结构。和一般POSFET结构相比,这种新结构大大减少了扩展栅电容(CEG),明显地提高了器件灵敏度。详述了这种结构的制造过程,特别是PI膜制备条件对CEG和器件性能的影响。当用5.2μm和8.7μm的PI膜作为扩展栅电极的绝缘层时,分别得到11.3dB和13.6dB的增益改善。这个结果和等效电路分析结果一致。这种新结构为采用成熟的IC工艺技术制作用于医学超声成象等领域的PVDF超声探测阵列传感器提供了一个崭新的途径。

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