作者:周真,苏子美,王天荣 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1995年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ506.0180 DOC编号:DOCCGQJ506.0189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出了目前在敏感元件和该系统中可靠性预计时普遍存在的问题,并予以讨论。介绍了系统级和元件级可靠性预计的方法。对元件级可靠性预计出现的问题给出出了解决方法。

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