《在线薄膜测厚仪》PDF+DOC
作者:姚景顺,毕文平,钟生新
单位:上海市电子学会;上海市通信学会
出版:《》
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZJS501.0070
DOC编号:DOCDZJS501.0079
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对于厚度为10—100μm的薄膜,传统测厚方法是将薄膜从生产线上切下一条,然后送实验室用光学仪器测量。这种方法的缺点是测量时间长、速度慢。本文介绍一种以8098单片机为核心的β射线薄膜测厚仪,精度高、速度快,能满足薄膜生产线高精度在线实时测厚的要求。
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