《传感器可靠性测试系统研制成功》PDF+DOC
作者:杨春印
单位:沈阳仪表科学研究院有限公司
出版:《仪表技术与传感器》1995年第06期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYBJS1995060020
DOC编号:DOCYBJS1995060029
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根据国家“八·;五”科研攻关项目研制的“传感器可靠性测试系统”已由机械工业部沈阳仪器仪表工艺研究所研制成功.系统结构灵活,规模可缩可扩,应用广泛,可对多种敏感元件和传感器的可靠性参数测试,尤其适合各企业对敏感元件和传感器作出厂前的分档分类检测,如扩散硅压力传感器、应变片压力称重传感器、PTC热敏电阻、PN结温度传感器以及磁敏元件等.它检测精度高、速度快、批处理数量大、数据处理灵活方便.系统主要技术指标及设备1.测试精度:±;0.05%F·;S
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