作者:杨春印 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1995年第06期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS1995060020 DOC编号:DOCYBJS1995060029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 根据国家“八·五”科研攻关项目研制的“传感器可靠性测试系统”已由机械工业部沈阳仪器仪表工艺研究所研制成功.系统结构灵活,规模可缩可扩,应用广泛,可对多种敏感元件和传感器的可靠性参数测试,尤其适合各企业对敏感元件和传感器作出厂前的分档分类检测,如扩散硅压力传感器、应变片压力称重传感器、PTC热敏电阻、PN结温度传感器以及磁敏元件等.它检测精度高、速度快、批处理数量大、数据处理灵活方便.系统主要技术指标及设备1.测试精度:±0.05%F·S

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