作者： 单位：中国科学院上海技术物理研究所 出版：《红外》1997年第06期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFHWAI1997060050 DOC编号：DOCHWAI1997060059 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本专利是一种用于分析平坦表面特性的分析仪，该分析仪第一个测量支架(12)内的辐射源(14)用于辐照物体(10)。第二个测量支架(18)内的探测器(20)用于接收米自物体的反射光线。具有各种定标图案的编码的连续带(24)通

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