作者:王合英,何元金 单位:中国真空学会 出版:《真空科学与技术学报》1997年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZKKX1997020030 DOC编号:DOCZKKX1997020039 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 用直流气体放电活化反应蒸发及光刻技术,在普通玻璃衬底上制备出开放式薄膜型CuO/ZnO半导体pn结。该pn结的I-U曲线呈整流特性,在室温下,正向伏安特性曲线确相对湿度的变化而改变。相对湿度增加,pn结的正向电流增大,而反向电流的变化可忽略。pn结的偏压不同,相对湿度变化所引起的电流变化不同。这种湿敏特性是由于对薄膜刻蚀图案形成的开放式pn结部分暴露于大气的结果。

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