《Si_3N_4绝缘栅中两种表面基对pH-ISFET器件敏感特性的影响》PDF+DOC
作者:牛蒙年,丁辛芳,童勤义
单位:中国科学院半导体研究所;中国电子学会
出版:《Journal of Semiconductors》1996年第07期
页数:7页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTX607.0070
DOC编号:DOCBDTX607.0079
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在表面基模型理论基础上,本文研究了含两种表面基的Si3N4绝缘体材料及其两种表面基(硅醇基和胺基)的比例系数对pH-ISFET器件敏感特性的影响.在硅醇基/胺基=7/3附近时,得到电解液一绝缘体(E-I)界面势对pH值的灵敏度最大,且线性响应范围宽;两种表面基的总数密度及其比值的稳定程度直接影响pH-ISFET器件的敏感响应和稳定特性.理论结果与实验观测结果相符,为进一步探索提高pH-ISFET传感器敏感特性的方法提供理论依据.
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