作者：胡玉禧,张红强,周绍祥 单位：中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版：《光电工程》1997年第04期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDGC704.0050 DOC编号：DOCGDGC704.0059 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 提出一种新的折射率测量方法。利用倾斜平行平板会引起出射光束位置平移的测量原理。同线阵ＣＣＤ探测产生了位移的光束，通过计算程序实时算出样品折射率。为了证实这种方法的可行性，本文作者建立了一个由Ｈｅ－Ｎｅ激光器、透镜组、ＣＣＤ传感器和单片机组成的实验系统，具体研制了硬件和软件，对厚度ｔ＝１５ｍｍ，倾角θ＝４５&#176；的Ｋ９玻璃进行了实际折射率测量。折射率在１．４～１．９之间时，该方法能达到小数点后四位以上的测量精度，测量速度快，自动化程度高，而且系统简单，造价低，适用范围广，对于可见光、红外、紫外波段的光学材料以及气体、液体等的折射率或者厚度均可用此方法测量。

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