《电磁测量技术在单分子层膜参数测试中的应用》PDF+DOC
作者:曹玲
单位:哈尔滨电工仪表研究所有限公司;中国仪器仪表学会电滋;测量信息处理仪器分会
出版:《电测与仪表》1997年第09期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDCYQ709.0050
DOC编号:DOCDCYQ709.0059
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本文介绍用光闭环式表面张力传感器、面积传感器和温度传感器与8098单片机组成的测量装置,测量不溶性物质单分子层膜的表面张力,测量分子平均占有面积的变化及控制提膜速度并制备LB膜,其中测量一个分子的厚度的精度可达1nm,(表面压力──分子平均占有表面积)等温曲线可直接显示在CRT屏幕上。
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