作者:任建军,陶盛,沈绍群 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1997年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS701.0030 DOC编号:DOCYBJS701.0039 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 硅微机械力敏器件在封装时往往采用硅—玻璃静电键合的方法。但在静电键合时静电力也往往作用于不需要键合的结构部分。并可能引起这些结构的畸变,造成器件特性劣化或破坏。本文分析了静电力的这些影响,并结合实践提出了一些解决方法

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。