作者:周真,苏子美,王天荣 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1996年第05期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ605.0160 DOC编号:DOCCGQJ605.0169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过对高分子电容式湿敏元件进行可靠性寿命试验,以及试验数据的处理,建立了该湿敏元件寿命分布模型,并根据失效规律进行了失效分析。

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