作者：苏子美,周真,王天荣 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》1996年第01期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ601.0180 DOC编号：DOCCGQJ601.0189 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 介绍了敏感元件与传感器的可靠性寿命试验设计方法，指出了寿命试验设计中须注意的若干问题。并给出了实用例子。

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