作者:王天荣,王丽杰 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》1996年第03期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ603.0160 DOC编号:DOCCGQJ603.0169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过实例介绍了可靠性技术中常用的失效分析方法一失效模式与效应分析,并阐述了失效模式、效应与危害度分析在传感器上的应用。

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