作者:SEEC.M.S,眭衍铭 单位:中国电子科技集团公司第29研究所;电子信息控制重点实验室 出版:《电子信息对抗技术》1996年第05期 页数:9页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZDK1996050060 DOC编号:DOCDZDK1996050069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在已有文献介绍过的几种阵列校正算法中.仅有少数算法就阵列由于互感耦合、传感器位置误差以及阵列信道失配的共同作用所产生的信号到达方向估计误差问题做过讨论.通过广义阵列参数化方法来描述标称阵列和实际阵列之间的偏差.阵列校正问题就可以被看作是校正矩阵和传感器位置估计问题.这种阵列校正算法通过一组可测定的方向矢量来估计传感器位置和校正矩阵.该方法的用途和特性通过模拟实验加以说明。

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