作者:余晋岳,刘国亭,张宏,周勇 单位:中国仪器仪表学会 出版:《仪器仪表学报》1996年第S1期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYQXB6S1.0440 DOC编号:DOCYQXB6S1.0449 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文观察了微型磁阻(Magneto—resistive)薄膜传感元件在难轴方向反磁化时曲折状磁畴的非一致转动过程,具体分析了传感器中产生Barkhausen跳跃和噪声的根源,特别注意了畴壁极性的不可逆转变过程及元件的引线结构对微磁结构的影响。

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