作者:何健军 单位:中国核科技信息与经济研究院 出版:《国外核新闻》1996年第05期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGWHW1996050210 DOC编号:DOCGWHW1996050219 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 【欧洲核学会《核新闻网》1996年1月26日报道】 调查1995年12月发生文殊快堆钠泄漏的日本政府官员,详细地介绍了将要采取的方法,同时肯定了关于热传感器的失效可能在那起事故中起主要作用的早期报告。 来自科技厅(STA)的专家说,更换一个被认为是原型快中子增殖堆二回路泄漏原因的失效热传感器的工作将于今天开始。这种传感器被安装在一回路和二回路冷却系统的三个环路中的重要位置,以测量液态钠冷却剂的温度。传感器从管外引入钠冷却剂中,由一个中空的手指状的包壳所保护。 现在调查人员的分析假定是一个传感器包壳的顶端破裂,然后通过包壳发生钠泄漏。为证实这是否为事故的原因,损坏的传感器

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