作者:丁艳萍,吴坚民,郑殿忠 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1998年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS801.0090 DOC编号:DOCYBJS801.0099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文通过有限单元法对E型硅杯进行应力分析,研究E型硅杯的结构偏差对膜片应力分布的影响,进而给出E型硅杯的结构偏差与膜片应力非线性度的关系。

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